Система тестирования высокоскоростных АЦП
Обзор
Система предназначена для функционального и параметрического контроля динамических и статических параметров высокоскоростных АЦП (до 1 ГГц). Система тестирования основана на платформе NI PXI. Программное обеспечение разработано в графической среде программирования NI LabVIEW. Система разработана для промышленных и исследовательских испытаний. Параметры системы можно гибко конфигурировать согласно требованиям.
Измерения
Статические параметры
  1. Ток потребления аналоговой части АЦП
  2. Ток потребления цифровой части АЦП
  3. Значения разности между максимальным и минимальным выходным напряжением
  4. Напряжения логических уровней синхросигнала
  5. Входное сопротивление
  6. Погрешность смещения
  7. Диапазон полной шкалы
  8. Интегральная нелинейность
  9. Дифференциальная нелинейность
Динамические параметры
  1. Отношение “сигнал-шум”
  2. Отношение сигнала к шуму и искажениям
  3. Динамический диапазон без паразитных составляющих
  4. Общее гармоническое искажение
  5. Гармонические составляющие второй и третей степени
  6. Дрожание апертуры
Top