Система тестирования высокомощных МОП и БТИЗ транзисторов
Обзор
Система предназначена для измерения статических и динамических параметров высокомощных МОП и БТИЗ транзисторов; автоматической самодиагностики измерительной системы; автокалибровки измерительной системы.
Система основана на платформе NI PXI, а также усилителя мощности сигнала. Программное обеспечение разработано в графической среде программирования NI LabVIEW и имеет простой в использовании и интуитивно понятный пользовательский интерфейс.
Измеряемые параметры
БТИЗ транзисторы:
  1. Пробивное напряжение коллектор-эмиттер
  2. Обратный ток коллектор-эмиттер
  3. Ток утечки затвор-эмиттер
  4. Напряжение насыщения коллектор-эмиттер
  5. Пороговое напряжение затвор-эмиттер
  6. Входная, выходная и проходная емкости
  7. Заряд затвора, заряд затвор-эмиттер, заряд затвор-коллектор
  8. Время задержки, время нарастания, время рассасывания, время спада

МОП транзисторы :
  1. Ток утечки затвора
  2. Остаточный ток стока
  3. Начальный ток стока
  4. Пробивное напряжение сток-исток
  5. Пороговое напряжение
  6. Сопротивление открытого транзистора
  7. Крутизна характеристики
  8. Входная, выходная и проходная емкости
Top